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Número de resultados: 248

UNE-EN IEC 61967-1:2019  UNE

Estado: Vigente / 2019-03-01

Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas. Parte 1: Definiciones y condiciones generales. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2019.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 61967-4:2002/AC:2017-07  UNE

Estado: Vigente / 2017-09-01

Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas de 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Mediciones de emisiones conducidas. Método de acoplamiento directo 1 ohm/150 ohm. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en septiembre de 2017.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 62090:2017  UNE

Estado: Vigente / 2017-08-01

Etiquetas de embalaje de productos para componentes electrónicos, usando código de barras y simbología bidimiensional. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2017.)

CTN 203/SC 91-119 TECNOLOGÍA DEL MONTAJE EN SUPERFICIE Y ELECTRÓNICA IMPRESA

UNE-EN 62132-1:2016  UNE

Estado: Vigente / 2016-04-01

Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética. Parte 1: Definiciones y condiciones generales (Ratificada por AENOR en abril de 2016.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 62215-3:2013  UNE

Estado: Vigente / 2013-11-01

Circuitos integrados. Medida de la inmunidad del impulso. Parte 3: Método de inyección transitoria no sincronizada. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2013.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 62132-8:2012  UNE

Estado: Vigente / 2012-11-01

Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética. Parte 8: Medición de la inmunidad radiada. Método de la línea TEM de placas con circuito integrado (IC) (Ratificada por AENOR en noviembre de 2012.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 61967-8:2011  UNE

Estado: Vigente / 2012-01-01

Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas de 150 kHz a 1 GHz. Parte 8: Medición de las emisiones radiadas. Método IC de líneas TEM de placas. (Ratificada por AENOR en enero de 2012.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 62132-2:2011  UNE

Estado: Vigente / 2011-07-01

Circuitos integrados. Medida de la inmunidad electromagnética. Parte 2: Medida de la inmunidad radiada. Método de la celda TEM y de la celda TEM en banda ancha (Ratificada por AENOR en julio de 2011.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 61967-6:2002/A1:2008  UNE

Estado: Vigente / 2008-09-01

Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas de 150 kHz a 1 GHz. Parte 6: Mediciones de emisiones conducidas. Método de sonda magnética. (Ratificada por AENOR en septiembre de 2008.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 62132-3:2007  UNE

Estado: Vigente / 2008-02-01

Circuitos integrados. Medida de la inmunidad electromagnética desde 150 kHz a 1 GHz. Parte 3: Método de inyección de volumen de corriente (BCI). (IEC 62132-3:2007). (Ratificada por AENOR en febrero de 2008.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 62132-4:2006  UNE

Estado: Vigente / 2006-08-01

Circuitos integrados. Medida de la inmunidad electromagnética desde 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Método de inyección de potencia directa de radiofrecuencia (IEC 62132-4:2006) (Ratificada por AENOR en agosto de 2006)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 61967-4:2002/A1:2006  UNE

Estado: Vigente / 2006-04-01

Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas de 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Mediciones de emisiones conducidas. Método de acoplamiento directo 1 ohm/150 ohm. (Ratificada por AENOR en abril de 2006.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 62132-5:2006  UNE

Estado: Vigente / 2006-04-01

Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética desde 150 kHz a 1 GHz. Parte 5: Método de la jaula de Faraday. (Ratificada por AENOR en abril de 2006.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 61086-1:2004  UNE

Estado: Vigente / 2004-07-30

Recubrimientos para tarjetas de cableados impresos (recubrimientos conformados). Parte 1: Definiciones, clasificación y requisitos generales.

CTN 206/SC 15 MATERIALES AISLANTES

UNE-EN 61086-3-1:2004  UNE

Estado: Vigente / 2004-07-23

Recubrimientos para tarjetas de cableados impresos (recubrimientos conformados). Parte 3-1: Especificaciones para materiales particulares. Recubrimientos para uso general. (Clase 1), usos de alta fiabilidad (Clase 2) y uso aeroespacial (Clase 3).

CTN 206/SC 15 MATERIALES AISLANTES

UNE-EN 61967-4:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-11-01

Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas de 150 kHz a 1 GHz. Parte 4: Mediciones de emisiones conducidas. Método de acoplamiento directo 1 ohm/150 ohm. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2002)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 61967-1:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-11-01

Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas de 150 kHz a 1 GHz. Parte 1: Definiciones y condiciones generales. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2002)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 61967-6:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-11-01

Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas de 150 kHz a 1 GHz. Parte 6: Mediciones de emisiones conducidas. Método de sonda magnética. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2002)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 61964:1999  UNE

Estado: Vigente / 2001-04-01

Circuitos integrados - Configuraciones de los terminales de memoria. (Ratificada por AENOR en abril de 2001)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 61943:1999  UNE

Estado: Vigente / 1999-11-01

Circuitos integrados. Guía de aplicación de aprobación de la línea de fabricación. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1999.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 165000-5:1997  UNE

Estado: Vigente / 1998-07-01

Circuitos integrados de película e híbridos. Parte 5: Procedimiento para verificar la cualificación. (Ratificada por AENOR en julio de 1998.)

CTN 203/SC 91-119 TECNOLOGÍA DEL MONTAJE EN SUPERFICIE Y ELECTRÓNICA IMPRESA

UNE-EN 165000-1:1996  UNE

Estado: Vigente / 1996-12-01

Circuitos integrados de película e híbridos. Parte 1: Especificación genérica. Procedimiento de aprobación de la cualificación. (Ratificada por AENOR en diciembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 190100:1993  UNE

Estado: Vigente / 1996-12-01

Especificación intermedia: Circuitos integrados digitales monolíticos. (Ratificada por AENOR en diciembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 165000-2:1996  UNE

Estado: Vigente / 1996-12-01

Circuitos integrados de película e híbridos. Parte 2: Inspección visual interna y ensayos especiales. (Ratificada por AENOR en diciembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 165000-3:1996  UNE

Estado: Vigente / 1996-12-01

Circuitos integrados de película e híbridos. Parte 3: Informe y lista de control de autoinspección para fabricantes de circuitos integrados de película e híbridos. (Ratificada por AENOR en diciembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 165000-4:1996  UNE

Estado: Vigente / 1996-12-01

Circuitos integrados de película e híbridos. Parte 4: Información para el cliente, programas de evaluación del nivel del producto y especificación marco de detalle. (Ratificada por AENOR en diciembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 160000/A1:1995  UNE

Estado: Vigente / 1996-11-01

Especificación genérica: Unidades de electrónica modular (modificación al apartado 1.2). (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)

CTN 203/SC 91-119 TECNOLOGÍA DEL MONTAJE EN SUPERFICIE Y ELECTRÓNICA IMPRESA

UNE-EN 163100:1991  UNE

Estado: Vigente / 1996-11-01

Especificación intermedia: Circuitos integrados de película e híbridos. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 163101:1991  UNE

Estado: Vigente / 1996-11-01

Especificación marco de detalle: Circuitos integrados de película e híbridos. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 190110:1994  UNE

Estado: Vigente / 1996-11-01

Especificación marco de detalle: Circuitos integrados con microprocesador digital. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 160000:1993  UNE

Estado: Vigente / 1996-09-01

Especificación genérica: Unidades de electrónica modular. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

CTN 203/SC 91-119 TECNOLOGÍA DEL MONTAJE EN SUPERFICIE Y ELECTRÓNICA IMPRESA

UNE-EN 190101:1994  UNE

Estado: Vigente / 1996-09-01

Especificación de familia: Circuitos digitales integrados TTL. Series 54, 64, 74, 84. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 190102:1994  UNE

Estado: Vigente / 1996-09-01

Especificación de familia: Circuitos digitales integrados TTL-Schottky. Series 54S, 64S, 74S, 84S. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 190103:1994  UNE

Estado: Vigente / 1996-09-01

Especificación de familia: Circuitos digitales integrados TTL-Schottky de baja potencia. Series 54LS, 64LS, 74LS, 84LS. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 190106:1994  UNE

Estado: Vigente / 1996-09-01

Especificación de familia: Circuitos digitales integrados TTL-Schottky avanzados de baja potencia. Series 54ALS, 74ALS. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 190107:1994  UNE

Estado: Vigente / 1996-09-01

Especificación de familia: Circuitos digitales integrados TTL rápidos. Series 54F, 74F. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 190108:1994  UNE

Estado: Vigente / 1996-09-01

Especificación de familia: Circuitos digitales integrados avanzados TTL. Series 54AS, 74AS. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 190109:1994  UNE

Estado: Vigente / 1996-09-01

Especificación de familia: Circuitos digitales integrados HC MOS. Series HC/HCT/HCU. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 190116:1993  UNE

Estado: Vigente / 1996-09-01

ESPECIFICACIÓN DE FAMILIA: CIRCUITOS DIGITALES integrados AC MOS. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 190000:1992  UNE

Estado: Vigente / 1996-01-01

Especificación genérica: circuitos integrados monolíticos. (Ratificada por AENOR en enero de 1996.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE 21321:1978  UNE

Estado: Vigente / 1978-06-15

Símbolos literales para los dispositivos con semiconductores y microcircuitos integrados.

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN IEC 62433-1:2019/AC:2020-07  UNE

Estado: Vigente / 2020-09-01

Modelado de Circuitos Integrados para CEM. Parte 1: Marco general de modelado (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en septiembre de 2020.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN IEC 62433-1:2019  UNE

Estado: Vigente / 2019-06-01

Modelado de Circuitos Integrados para CEM. Parte 1: Marco general de modelado (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2019.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN IEC 62228-3:2019  UNE

Estado: Vigente / 2019-06-01

Circuitos integrados. Evaluación de compatibilidad electromagnética (CEM) de los transceptores. Parte 3: Transceptores CAN (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2019.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN IEC 62228-1:2018  UNE

Estado: Vigente / 2018-07-01

Circuitos integrados. Evaluación de compatibilidad electromagnética (CEM) de los transceptores. Parte 1: Condiciones generales y definiciones. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2018.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 62433-3:2017  UNE

Estado: Vigente / 2017-07-01

Modelado de Circuitos Integrados para CEM. Parte 3: Modelos de circuitos integrados para simulación funcional de EMI. Modelo de emisión radiado (ICEM-RE). (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 62433-2:2017  UNE

Estado: Vigente / 2017-06-01

Compatibilidad electromagnética. Parte 2: Modelos de circuitos integrados para simulación funcional de EMI. Modelo de emisión conducido (ICEM-CE) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2017.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 62228-2:2017  UNE

Estado: Vigente / 2017-03-01

Circuitos integrados. Evaluación de compatibilidad electromagnética (CEM) de los transmisores. Parte 2: Transmisores LIN (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2017.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 62433-4:2016  UNE

Estado: Vigente / 2016-12-01

Modelado de CEM de circuitos integrados. Parte 4: Modelos de circuitos integrados para la simulación del comportamiento de inmunidad RF. Modelado de inmunidad conducida (ICIM-CI) (Ratificada por AENOR en diciembre de 2016.)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

UNE-EN 61967-5:2003  UNE

Estado: Vigente / 2003-07-01

Circuitos integrados. Medición de las emisiones electromagnéticas desde 150 kHz a 1 GHz. Parte 5: Medición de las emisiones conducidas por el método de la jaula de Faraday. (Ratificada por AENOR en julio de 2003)

CTN 209/SC 47 DISPOSITIVOS DE SEMICONDUCTORES

Número de resultados: 248

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