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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 60749-43:2017 (Ratificada)

UNE-EN 60749-43:2017 (Ratificada)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 43: Directrices para los planes de cualificación de fiabilidad de circuitos integrados (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2017.)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans (Endorsed by Asociación Española de Normalización in October of 2017.)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 43: Lignes directrices concernant les plans de qualification de la fiabilité des CI (Entérinée par l'Asociación Española de Normalización en octobre 2017.)

Fecha ratificación:
2017-10-01 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 60749-43:2017 (Idéntico)

IEC 60749-43:2017 (Idéntico)

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Idioma Formato

Formato físico y digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

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