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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 60749-5:2017 (Ratificada)

UNE-EN 60749-5:2017 (Ratificada)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo continuo de duración de vida bajo temperatura y humedad con polarización. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2017.)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (Endorsed by Asociación Española de Normalización in August of 2017.)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation (Entérinée par l'Asociación Española de Normalización en août 2017.)

Fecha ratificación:
2017-08-01 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 60749-5:2017 (Idéntico)

IEC 60749-5:2017 (Idéntico)

Anulaciones:
42
Idioma Formato

Formato físico y digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

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