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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 60749-28:2017 (Ratificada)

UNE-EN 60749-28:2017 (Ratificada)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 28: Ensayo de la sensibilidad a la descarga electrostática. Modelo de dispositivo cargado- Nivel de dispositivo. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2017.)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (Endorsed by Asociación Española de Normalización in August of 2017.)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essai mécaniques et climatiques - Partie 28: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de dispositif chargé par contact direct (DC-CDM) (Entérinée par l'Asociación Española de Normalización en août 2017.)

Fecha ratificación:
2017-08-01
Equivalencias internacionales:

EN 60749-28:2017 (Idéntico)

IEC 60749-28:2017 (Idéntico)

80
Idioma Formato

Formato físico y digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

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