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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 60749-6:2017 (Ratificada)

UNE-EN 60749-6:2017 (Ratificada)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2017.)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 6: Stockage à haute température (Entérinée par l'Asociación Española de Normalización en juillet 2017.)

Fecha ratificación:
2017-07-01 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 60749-6:2017 (Idéntico)

IEC 60749-6:2017 (Idéntico)

Anulaciones:
38
Idioma Formato

Formato físico y digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

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