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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 60749-4:2017 (Ratificada)

UNE-EN 60749-4:2017 (Ratificada)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 4: Ensayo continuo fuertemente acelerado de esfuerzo de calor húmedo (HAST). (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2017.)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 4: Essai continu fortement acceléré de contrainte de chaleur humide (HAST) (Entérinée par l'Asociación Española de Normalización en juillet 2017.)

Fecha ratificación:
2017-07-01 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 60749-4:2017 (Idéntico)

IEC 60749-4:2017 (Idéntico)

Anulaciones:
42
Idioma Formato

Formato físico y digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

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