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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 62047-17:2015 (Ratificada)

UNE-EN 62047-17:2015 (Ratificada)

Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 17: Método de ensayo de bulto para medir las propiedades mecánicas de las películas finas (Ratificada por AENOR en agosto de 2015.)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17: Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films (Endorsed by AENOR in August of 2015.)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 17: Méthode d'essai de renflement pour la mesure des propriétés mécaniques des couches minces (Entérinée par l’AENOR en août 2015.)

Fecha ratificación:
2015-08-01 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 62047-17:2015 (Idéntico)

IEC 62047-17:2015 (Idéntico)

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Idioma Formato

Formato físico y digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

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