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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 62047-21:2014 (Ratificada)

UNE-EN 62047-21:2014 (Ratificada)

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 21: Método de ensayo para la relación de Poisson de materiales MEMS de película delgada (Ratificada por AENOR en noviembre de 2014.)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials (Endorsed by AENOR in November of 2014.)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 21: Méthode d'essai relative au coefficient de Poisson des matériaux MEMS en couche mince (Entérinée par l’AENOR en novembre 2014.)

Fecha ratificación:
2014-11-01 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 62047-21:2014 (Idéntico)

IEC 62047-21:2014 (Idéntico)

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Idioma Formato

Formato físico y digital

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