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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 60749-15:2011

UNE-EN 60749-15:2011

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 15: Resistencia a la temperatura de soldadura para dispositivos montados con agujeros pasantes.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d’essai mécaniques et climatiques -- Partie 15: Résistance à la température de soudage pour dispositifs par trous traversants

Fecha Edición:
2011-07-13 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 60749-15:2010 (Idéntico)

EN 60749-15:2010 CORR:2011 (Idéntico)

IEC 60749-15:2010 (Idéntico)

Otras versiones vigentes:
Anulaciones:
38
Idioma Formato

Formato físico y digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

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