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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 60749-38:2008 (Ratificada)

UNE-EN 60749-38:2008 (Ratificada)

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 38: Método de ensayo del error transitorio para dispositivos semiconductores con memoria. (Ratificada por AENOR en septiembre de 2008.)

Semiconductor devices- Mechanical and climatic test methods- Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (Endorsed by AENOR in September of 2008.)

Dispositifs a semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 38: Méthode d'essai des erreurs logicielles pour les dispositifs à semiconducteurs avec mémoire (Entérinée par l’AENOR en septembre 2008.)

Fecha ratificación:
2008-09-01 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 60749-38:2008 (Idéntico)

IEC 60749-38:2008 (Idéntico)

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Idioma Formato

Formato físico y digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

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