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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 60749-23:2005

UNE-EN 60749-23:2005

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida de funcionamiento a alta temperatura.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 23: High temperature operating life

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 23: Durée de vie en fonctionnemement à haute température

Fecha Edición:
2005-03-16 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 60749-23:2004 (Idéntico)

IEC 60749-23:2004 (Idéntico)

Modificaciones:

Es modificada por: UNE-EN 60749-23:2005/A1:2011

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Idioma Formato

Formato físico y digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

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