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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 60749-25:2004

UNE-EN 60749-25:2004

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 25: Ciclos de temperatura.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 25: Temperature cycling

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 25: Cycles de température.

Fecha Edición:
2004-06-11 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 60749-25:2003 (Idéntico)

IEC 60749-25:2003 (Idéntico)

50
Idioma Formato

Formato físico y digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

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