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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 60749-36:2004

UNE-EN 60749-36:2004

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 36: Aceleración constante.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 36: Acceleration, steady state

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 36: Accélération constante

Fecha Edición:
2004-03-18 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 60749-36:2003 (Idéntico)

IEC 60749-36:2003 (Idéntico)

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Idioma Formato

Formato físico y digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

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