Saltar navegación principal
Normas UNE - AENOR
UNE-EN 60749-5:2003

UNE-EN 60749-5:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo continuo de duración de vida bajo temperatura y humedad con polarización.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation

Fecha Edición:
2003-11-21 /Anulada
Fecha anulación:
2020-05-16
Equivalencias internacionales:

EN 60749-5:2003 (Idéntico)

IEC 60749-5:2003 (Idéntico)

Anulaciones:
38
Idioma Formato

Formato físico y digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

Añadir a la cesta