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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 60749-16:2003

UNE-EN 60749-16:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección del ruido de impacto de partículas (PIND).

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 16: Particle impact noise detection (PIND)

Dispositifs à semiconducteurs. Méthodes d'essais mécaniques et climatiques. Partie 16: Détection de bruit d'impact de particules (PIND)

Fecha Edición:
2003-11-21 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 60749-16:2003 (Idéntico)

IEC 60749-16:2003 (Idéntico)

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Idioma Formato

Formato físico y digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

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