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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 60749-11:2003

UNE-EN 60749-11:2003

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 11: Variaciones rápidas de temperatura. Método de los dos baños.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method.

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 11: Variations rapides de température - Méthode des deux bains.

Fecha Edición:
2003-05-30 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 60749-11:2002 (Idéntico)

IEC 60749-11:2002 (Idéntico)

Anulaciones:
35
Idioma Formato

Formato físico y digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

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