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Normas SAE – AENOR
SAE J2052_201101

SAE J2052_201101

Test Device Head Contact Duration Analysis

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Fecha publicación:
2011-01-05 /Revised
Abstract:
This methodology can be used for all calculations of HIC, with all test devices having an upper neck triaxial load cell mounted rigidly to the head, and head triaxial accelerometers.
70,53
Idioma Formato

Formato digital

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