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Proyectos UNE - AENOR
PNE-prEN IEC 60749-28:2020

PNE-prEN IEC 60749-28:2020

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 28: Ensayo de la sensibilidad a la descarga electrostática. Modelo de dispositivo cargado- Nivel de dispositivo.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essai mécaniques et climatiques - Partie 28: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de dispositif chargé par contact direct (DC-CDM)

Equivalencias internacionales:

prEN IEC 60749-28:2020

IEC 60749-28:202X

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