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Proyectos UNE - AENOR
PNE-prEN IEC 60749-37:2020

PNE-prEN IEC 60749-37:2020

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 37: Método de ensayo de caída a nivel de tarjeta para componentes usando un acelerómetro.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 37: Méthode d'essai de chute au niveau de la carte avec utilisation d’un accéléromètre

Equivalencias internacionales:

prEN IEC 60749-37:2020

IEC 60749-37:202X

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