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Códigos ISO – AENOR
ISO 14606:2000

ISO 14606:2000

Surface chemical analysis -- Sputter depth profiling -- Optimization using layered systems as reference materials

Analyse chimique des surfaces -- Profilage d'épaisseur par bombardement -- Optimisation à l'aide de systèmes mono- ou multicouches comme matériaux de référence

Fecha Anulación:
2015-12-01 / Anulada
Comité:
ISO/TC 201/SC 4 - Depth profiling
Relación con otras normas ISO:

Es anulada por: ISO 14606:2015

53,55
Idioma Formato

Formato digital

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