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AENOR
ISO 3274:1975

ISO 3274:1975

Instruments for the measurement of surface roughness by the profile method -- Contact (stylus) instruments of consecutive profile transformation -- Contact profile meters, system M

Instruments de mesurage de la rugosité des surfaces par la méthode du profil -- Instruments à palpeur-aiguille, à transformation progressive du profil -- Profilomètres à contact du système M

122,66
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Formato digital

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Fecha Anulación:
1996-12-05 / Anulada
Comité:
ISO/TC 213 - Dimensional and geometrical product specifications and verification
Equivalencia con normas UNE:

UNE 82314:1991 - Idéntico

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