Resumen (inglés):
IEC TR 62866:2014 describes the history of the degradation of printed wiring boards caused by electrochemical migration, the measurement method, observation of the failure and remarks to testing in detail.
Resumen (francés):
IEC TR 62866:2014 décrit dans le détail l'histoire de la dégradation des cartes à circuits imprimés provoquée par la migration électrochimique, la méthode de mesure, l'observation de la défaillance et les remarques relatives aux essais.
