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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 61580-9:1996

IEC 61580-9:1996

Methods of measurement for waveguides - Part 9: Reflection coefficient at rectangular waveguide interfaces

Méthodes de mesure applicables aux guides d'ondes - Partie 9: Coefficient de réflexion aux interfaces des guides d'ondes

Fecha:
1996-07-03 /Vigente
Resumen (inglés):
Gives the means for determining the reflection coefficient at the junction of two similar rectanglular waveguides due to: differences in the wavguide internal dimensions, lateral displacement between the waveguide axes in either the H or E plane and angular misalignment between the waveguide axes.
Resumen (francés):
Indique les moyens de déterminer le coefficient de réflexion à la jonction de deux guides d'ondes rectangulaires similaires dû aux: différences dans les dimensions internes du guide, déplacement latéral entre les axes du guide dans le plan H ou le plan E et excentrage angulaire entre les axes du guide.
18,65
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