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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 62969-4:2018

IEC 62969-4:2018

Semiconductor devices - Semiconductor interface for automotive vehicles - Part 4: Evaluation method of data interface for automotive vehicle sensors

Dispositifs à semiconducteurs – Interface à semiconducteurs pour les véhicules automobiles - Partie 4: Méthode d'évaluation de l'interface de données destinée aux capteurs de véhicules automobiles

Fecha:
2018-06-18 /Vigente
Resumen (inglés):
IEC 62969-4:2018 specifies a method of directly fault injection test for automotive semiconductor sensor interface that can be used to support the conformance assurance in the vehicle communications interface.
Resumen (francés):
L’IEC 62969-4:2018 spécifie une méthode d’essai par injection directe de défaut pour l’interface à semiconducteurs des capteurs de véhicules automobiles, pouvant être utilisée pour assurer la conformité de l’interface de communication du véhicule.
94,8
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