IEC 60759:1983

Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers

Méthodes d'essais normalisés des spectromètres d'énergie X à semicteur

Información:

Fecha:

1983-01-01 /Vigente

Resumen (inglés):

Gives standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers consisting of a semiconductor radiation detector assembly and signal processing electronics interfaced to a pulse-height analyzer/computer.

Resumen (francés):

Donne les méthodes d'essais normalisés des spectromètres d'énergie X à semicteur constitués d'un semicteur et de l'électronique de traitement du signal liés par une interface à un analyseur d'amplitude couplé à un calculateur.

226,6 €

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

Añadir a la cesta