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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 63202-1:2019

IEC 63202-1:2019

Photovoltaic cells - Part 1: Measurement of light-induced degradation of crystalline silicon photovoltaic cells

Cellules photovoltaïques - Partie 1: Mesure de la dégradation induite par la lumière des cellules photovoltaïques au silicium cristallin

Fecha:
2019-06-20 /Vigente
Resumen (inglés):
IEC 63202-1:2019 describes procedures for measuring the light-induced degradation (LID) of crystalline silicon photovoltaic (PV) cells in simulated sunlight. The magnitude of LID in a crystalline silicon PV cell is determined by comparing maximum output power at Standard Test Conditions (STC) before, and after, exposure to simulated sunlight at a specified temperature and irradiance.
The purpose of this document is to provide standardized PV cell LID information to help PV module manufacturers in minimizing the mismatch between cells within the same module, thereby maximizing power yield.
Resumen (francés):
l'IEC 63202-1:2019 décrit les procédures pour la mesure de la dégradation induite par la lumière (LID, light-induced degradation) des cellules photovoltaïques (PV) au silicium cristallin sous éclairement solaire simulé. L'amplitude de la dégradation induite par la lumière dans une cellule photovoltaïque au silicium cristallin est déterminée en comparant la puissance de sortie maximale aux conditions normales d’essai ((STC, standard test conditions) avant et après l'exposition à un éclairement solaire simulé, à une température et un éclairement spécifiés.
L'objet du présent document est de fournir des informations sur la dégradation induite par la lumière des cellules photovoltaïques normalisées, afin d'aider les fabricants de modules photovoltaïques à réduire le plus possible la désadaptation entre les cellules à l'intérieur du même module, augmentant ainsi au maximum le rendement de puissance.
Relaciones con otras normas IEC
36,41
Idioma Formato

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