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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60749-32:2002

IEC 60749-32:2002

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 32: Flammability of plastic-encapsulated devices (externally induced)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 32: Inflammabilité des dispositifs à encapsulation plastique (cas d'une cause extérieure d'inflammation)

Fecha:
2002-08-30 /Vigente
Resumen (inglés):
Applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits), this test determines whether the device ignites due to external heating. The test uses a needle flame, simulating the effect of small flames which may result from fault conditions within equipment containing the device. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy.
Resumen (francés):
Applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés), cet essai détermine si le dispositif prend feu en raison d'une chaleur extérieure. L'essai est pratiqué avec un brûleur-aiguille, simulant l'effet de petites flammes pouvant résulter de mauvaises conditions apparaissant dans l'équipement contenant le dispositif. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire.
18,2
Idioma Formato

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