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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60749-41:2020

IEC 60749-41:2020

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 41: Méthodes d’essai normalisées pour la fiabilité des dispositifs à mémoire non volatile

Fecha:
2020-07-22 /Vigente
Resumen (inglés):
IEC 60749-41:2020 specifies the procedural requirements for performing valid endurance, retention and cross-temperature tests based on a qualification specification. Endurance and retention qualification specifications (for cycle counts, durations, temperatures, and sample sizes) are specified in JESD47 or are developed using knowledge-based methods such as in JESD94.
Resumen (francés):
L’IEC 60749-41:2020 spécifie les exigences relatives aux procédures permettant de réaliser des essais valides d’endurance, de conservation de données et à températures opposées, basées sur une spécification de qualification. Les spécifications de qualification des essais d’endurance et de conservation de données (pour les nombres de cycles, durées, températures et tailles d’échantillon) sont données dans le document JESD47 ou sont développées en utilisant des méthodes à base de connaissances, telles que celles données dans le document JESD94.
135,27
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