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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60749-30:2005

IEC 60749-30:2005

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 30: Préconditionnement des composants pour montage en surface non hermétiques avant les essais de fiabilité

Fecha:
2005-01-20 /Anulada
Resumen (inglés):
Establishes a standard procedure for determining the preconditioning of non-hermetic surface mount devices (SMDs) prior to reliability testing. The test method defines the preconditioning flow for non-hermetic solid-state SMDs representative of a typical industry multiple solder reflow operation. These SMDs should be subjected to the appropriate preconditioning sequence described in this standard prior to being submitted to specific in-house reliability testing in order to evaluate long term reliability.
Resumen (francés):
Etablit une procédure normalisée de détermination du préconditionnement pour les composants pour montage en surface (CMS) non hermétiques avant les essais de fiabilité. Cette méthode d'essai définit une refusion de préconditionnement pour les CMS à l'état solide non hermétiques représentative d'une opération de refusion de soudure multiple industrielle type. Il convient que les CMS soient soumis à la séquence de préconditionnement appropriée décrite dans ce document avant d'être soumis aux essais de fiabilité sur place spécifiques pour évaluer la fiabilité à long terme.
64,29
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