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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60747-5-3:1997

IEC 60747-5-3:1997

Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods

Dispositifs discrets à semiconducteurs et circuits intégrés - Partie 5-3: Dispositifs optoélectroniques - Méthodes de mesure

Fecha:
1997-09-05 /Anulada
Resumen (inglés):
Describes the measuring methods applicable to the optoelectronic devices which are not intended to be used in the fibre optic systems or subsystems.
Resumen (francés):
Décrit les méthodes de mesure applicables aux dispositifs optoélectroniques qui ne sont pas prévus pour être utilisés dans les systèmes ou sous-systèmes à fibres optiques.
187,92
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