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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 62496-2:2017

IEC 62496-2:2017

Optical circuit boards - Basic test and measurement procedures - Part 2: General guidance for definition of measurement conditions for optical characteristics of optical circuit boards

Cartes à circuits optiques - Méthodes fondamentales d'essais et de mesures - Partie 2: Recommandations générales pour la définition des conditions de mesure des caractéristiques optiques des cartes à circuits optiques

Fecha:
2017-05-24 /Vigente
Resumen (inglés):
IEC 62496-2:2017 specifies a method of defining the conditions for measurements of optical characteristics of optical circuit boards. The method comprises the use of code reference look-up tables to identify different critical aspects of the measurement environment. The values extracted from the tables are used to construct a measurement identification code, which, in itself, captures sufficient information about the measurement conditions, so as to ensure consistency of independently measured results within an acceptable margin. Recommended measurement conditions are specified to minimise further variation in independently measured results.
Resumen (francés):
IEC 62496-2:2017 spécifie une méthode pour définir les conditions de mesure des caractéristiques optiques des cartes à circuits optiques. La méthode inclut l'utilisation de tableaux présentant des références à des codes pour identifier différents aspects critiques de l'environnement de mesure. Les valeurs extraites des tableaux sont utilisées pour construire un code d'identification des mesures qui contient suffisamment d'informations sur les conditions de mesure, afin d'assurer la cohérence des résultats mesurés de manière indépendante avec une marge acceptable. Des conditions de mesure recommandées sont spécifiées pour réduire le plus possible les variations des résultats mesurés de manière indépendante.
Mots clés: densités de largeur de bande, caractéristiques optiques des cartes à circuits optiques
191,88
Idioma Formato

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