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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60749-43:2017

IEC 60749-43:2017

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 43: Lignes directrices concernant les plans de qualification de la fiabilité des CI

Fecha:
2017-06-15 /Vigente
Resumen (inglés):
IEC 60749-43:2017 gives guidelines for reliability qualification plans of semiconductor integrated circuit products (ICs). This document is not intended for military- and space-related applications.
Resumen (francés):
L’IEC 60749-43:2017 fournit des lignes directrices concernant les plans de qualification de la fiabilité des produits de circuits intégrés (CI) à semiconducteurs. Le présent document n’est pas destiné aux applications militaires et spatiales.
191,16
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