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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 62951-6:2019

IEC 62951-6:2019

Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 6: Test method for sheet resistance of flexible conducting films

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs souples et extensibles - Partie 6: Méthode d’essai pour la résistance de couche des couches conductrices souples

Fecha:
2019-05-06 /Vigente
Resumen (inglés):
IEC 62951-6:2019 specifies terms, as well as the test method and report of sheet resistance of the flexible conducting film under bending and folding tests. The measurement methods include the 2-point probe, 4-point probe and Montgomery method, which can be applied to in-situ and ex-situ measurement and the measurements of anisotropic sheet resistance.
Resumen (francés):
L’IEC 62951-6:2019 spécifie les termes, ainsi que la méthode et le rapport d’essai de la résistance de couche d’une couche conductrice souple soumise à des essais de courbure et de pliage. Les méthodes de mesurage comprennent la méthode de la sonde 2 points, la méthode de la sonde 4 points et la méthode de Montgomery, qui peuvent être appliquées à un mesurage sur site ou hors site et aux mesurages de résistance de couche anisotrope.
132,92
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