Saltar navegación principal
Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 62951-5:2019

IEC 62951-5:2019

Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 5: Test method for thermal characteristics of flexible materials

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs souples et extensibles - Partie 5 : Méthode d’essai pour les caractéristiques thermiques des matériaux souples

Fecha:
2019-02-27 /Vigente
Resumen (inglés):
IEC 62951-5:2019 specifies the test method for thermal characteristics of flexible materials. This document includes terms, definitions, symbols, and test methods that can be used to evaluate and determine thermal characteristics of flexible materials for practical use. The measurement method relies on non-contact optical thermometry that is based on temperature dependent optical reflectance. This document is applicable to both substrate and thin-film flexible semiconductor materials that are subjected to bending and stretching.
Resumen (francés):
L’IEC 62951-5:2019 spécifie la méthode d’essai pour les caractéristiques thermiques des matériaux souples. Le présent document inclut les termes, définitions, symboles et méthodes d’essai pouvant être utilisés pour évaluer et déterminer les caractéristiques thermiques des matériaux souples, dans le contexte d’une utilisation pratique. La méthode de mesure s’appuie sur la thermométrie optique sans contact, qui est elle-même basée sur le facteur de réflexion optique, qui dépend de la température. Le présent document s’applique aux semiconducteurs souples en substrat et en couche mince, qui sont soumis à des contraintes de courbure et d’étirement.
97,32
Idioma Formato

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

Añadir a la cesta