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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60749-5:2017

IEC 60749-5:2017

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de durée de vie sous température et humidité avec polarisation

Fecha:
2017-04-10 /Vigente
Resumen (inglés):
IEC 60749-5:2017 provides a steady-state temperature and humidity bias life test for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments.
This second edition cancels and replaces the first edition published in 2003. This edition constitutes a technical revision.
This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
a) correction of an error in an equation;
b) inclusion of notes for guidance;
c) clarification of the applicability of test conditions.
Resumen (francés):
L’IEC 60749-5:2017 décrit un essai continu de durée de vie utilisant la température et l’humidité avec polarisation pour évaluer la fiabilité des dispositifs à semiconducteurs sous boîtier non hermétique dans les environnements humides. Cette méthode d’essai est considérée comme destructive.
Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l’édition précédente:
a) correction d’une erreur dans une équation;
b) ajout de notes à des fins de recommandation;
c) clarification de l’applicabilité des conditions d’essai.
37,39
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