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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60749-6:2017

IEC 60749-6:2017

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 6: Stockage à haute température

Fecha:
2017-03-03 /Vigente
Resumen (inglés):
IEC 60749-6:2017 is to test and determine the effect on all solid state electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied. This test is typically used to determine the effects of time and temperature, under storage conditions, for thermally activated failure methods and time-to-failure of solid state electronic devices, including non-volatile memory devices (data-retention failure mechanisms). This test is considered non-destructive but should preferably be used for device qualification. If such devices are used for delivery, the effects of this highly accelerated stress test will need to be evaluated. Thermally activated failure mechanisms are modelled using the Arrhenius equation for acceleration, and guidance on the selection of test temperatures and durations can be found in IEC 60749-43.
This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
a) additional test conditions;
b) clarification of the applicability of test conditions.
Resumen (francés):
L’IEC 60749-6:2017 a pour objet de soumettre à essai et de déterminer, sur tous les dispositifs électroniques à semiconducteurs, l’effet du stockage à température élevée sans application de contrainte électrique. Cet essai est typiquement utilisé pour déterminer les effets de la durée d’exposition et de la température, dans des conditions de stockage, sur les modes de défaillance déclenchés par la chaleur et la durée de fonctionnement avant défaillance des dispositifs électroniques à semiconducteurs, comprenant les dispositifs à mémoire non volatile (mécanismes de défaillance liés à la conservation de données). Cet essai est considéré comme non destructif mais il convient de le privilégier pour la qualification des dispositifs. Si de tels dispositifs sont livrés, il est nécessaire d’évaluer les effets de cet essai de contrainte fortement accéléré.
Les modes de défaillance déclenchés par la chaleur sont modélisés à partir de l’équation d’Arrhenius pour l’accélération, et des recommandations concernant le choix des températures d’essai et des durées d’exposition peuvent être consultées dans l’IEC 60749-43.
Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l’édition précédente:
a) conditions d’essai supplémentaires;
b) clarification de l’applicabilité des conditions d’essai.
18,38
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