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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 62132-1:2015

IEC 62132-1:2015

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 1: General conditions and definitions

Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 1: Conditions générales et définitions

Fecha:
2015-10-29 /Vigente
Resumen (inglés):
IEC 62132-1:2015 provides general information and definitions about measurement of electromagnetic immunity of integrated circuits (ICs) to conducted and radiated disturbances. It also defines general test conditions, test equipment and setup, as well as the test procedures and content of the test reports for all parts of the IEC 62132 series. Test method comparison tables are included in Annex A to assist in selecting the appropriate measurement method(s). This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
a) frequency range of 150 kHz to 1 GHz has been deleted from the title;
b) frequency step above 1 GHz has been added in Table 2 in 7.4.1;
c) IC performance classes in 8.3 have been modified;
d) Table A.1 was divided into two tables, and references to IEC 62132-8 and IEC 62132-9 have been added in the new Table A.2 in Annex A.
Resumen (francés):
L'IEC 62132-1:2015 fournit des informations générales et des définitions relatives à la mesure de l'immunité électromagnétique des circuits intégrés (CI) aux perturbations conduites et rayonnées. Elle définit également les conditions générales d'essai, l'équipement et le montage d'essai, ainsi que les méthodes d'essai et le contenu des rapports d'essai pour toutes les parties de la série IEC 62132. Des tableaux de comparaison des méthodes d'essai sont inclus dans l'Annexe A pour aider à la sélection de la ou des méthodes de mesure appropriées. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente:
a) la plage de fréquences de 150 kHz à 1 GHz a été supprimée du titre;
b) l'échelon de fréquence supérieur à 1 GHz a été ajouté dans le Tableau 2 de 7.4.1;
c) les classes de performance des circuits intégrés de 8.3 ont été modifiées;
d) le Tableau A.1 a été divisé en deux tableaux, et des références à l'IEC 62132-8 et à l'IEC 62132-9 ont été ajoutées dans le nouveau Tableau A.2 de l'Annexe A.
135,32
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