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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC PAS 62205:2000

IEC PAS 62205:2000

High temperature storage life

Fecha:
2000-11-28 /Anulada
Resumen (inglés):
Aims at determining the effect on solid state electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied. This test is considered destructive.
Resumen (francés):
9,32
Idioma Formato

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