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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC PAS 62203:2000

IEC PAS 62203:2000

Guide for the standard probe pad sizes and layouts for wafer-level electrical testing

Fecha:
2000-11-28 /Anulada
Resumen (inglés):
Applies to double- and single-column arrays of metal probe pads, on a semiconductor wafer or chip, that are electrically connected to one or more test structures.
Resumen (francés):
18,64
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