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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 61000-4-20:2003+AMD1:2006 CSV

IEC 61000-4-20:2003+AMD1:2006 CSV

Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20: Testing and measurement techniques - Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides

Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-20: Techniques d'essai et de mesure - Essais d'émission et d'immunité dans les guides d'onde TEM

Fecha:
2007-01-31 /Anulada
Resumen (inglés):
This part of IEC 61000 relates to emission and immunity test methods for electrical and electronic equipment using various types of transverse electromagnetic (TEM) waveguides. This includes open (for example, striplines and EMP simulators) and closed (for example, TEM cells) structures, which can be further classified as one-, two-, or multi-port TEM waveguides. The frequency range depends on the specific testing requirements and the specific TEM waveguide type. The object of this standard is to describe - TEM waveguide characteristics, including typical frequency ranges and EUT-size limitations; - TEM waveguide validation methods for EMC measurements; - the EUT (i.e. EUT cabinet and cabling) definition; - test set-ups, procedures, and requirements for radiated emission testing in TEM waveguides and - test set-ups, procedures, and requirements for radiated immunity testing in TEM waveguides. This standard does not intend to specify the tests to be applied to any particular apparatus or system(s). The main intention of this standard is to provide a general basic reference for all interested product committees of the IEC. For radiated emissions testing, product committees should select emission limits and test methods in consultation with CISPR. For radiated immunity testing, product committees remain responsible for the appropriate choice of immunity tests and immunity test limits to be applied to equipment within their scope. This standard describes test methods that are separate from those of IEC 61000-4-3. These other distinct test methods may be used when so specified by product committees, in consultation with CISPR and TC 77. It has the status of a basic EMC publication in accordance with IEC Guide 107. This consolidated version consists of the first edition (2003) and its amendment 1 (2006). Therefore, no need to order amendment in addition to this publication.
Resumen (francés):
La présente partie de la CEI 61000 concerne les méthodes d'essai d'émission et d'immunité pour les équipements électriques et électroniques utilisant différents types de guides d'onde transverse électromagnétique (TEM). Ces types comprennent des structures ouvertes (par exemple, des lignes ouvertes et des simulateurs d'impulsion électromagnétique), et des structures fermées (par exemple des cellules TEM), qui peuvent être elles-mêmes classées en guides d'onde TEM à un accès, à deux accès, ou à accès multiples. La gamme de fréquences dépend des exigences d'essai spécifiques et du type spécifique de guide d'onde TEM. L'objet de cette norme est de décrire - les caractéristiques des guides d'onde TEM, y compris les gammes de fréquences types et les limites de tailles des appareils en essai; - les méthodes de validation des guides d'onde TEM pour les mesures de CEM; - la définition de l'appareil en essai (c'est-à-dire l'armoire et le câblage de l'appareil en essai); - les montages d'essai, les procédures et les exigences pour les essais d'émissions rayonnées dans les lignes TEM, et - les montages d'essai, les procédures et les exigences pour les essais d'immunité rayonnée dans les guides d'onde TEM. Cette norme ne vise pas à spécifier les essais devant s'appliquer à des appareils ou systèmes particuliers. Le but principal de cette partie est de donner une référence de base d'ordre général à tous les comités de produits CEI concernés. Pour les essais d'émission rayonnée, il convient que les comités de produits sélectionnent des limites d'émission et des méthodes d'essai en consultation avec le CISPR. Pour les essais d'immunité rayonnée, les comités de produits restent responsables du choix approprié des essais d'immunité et des limites à appliquer aux matériels de leur domaine d'application. Cette norme décrit des méthodes d'essai qui sont indépendantes de celles de la CEI 61000-4-3. Ces autres méthodes distinctes peuvent être utilisées quand elles sont ainsi spécifiées par les comités de produits, en consultation avec le CISPR et le CE 77. Elle a le statut de publication fondamentale en CEM en accord avec le Guide 107 de la CEI. Cette version consolidée comprend la première édition (2003) et son amendement 1 (2006). Il n'est donc pas nécessaire de commander l'amendement avec cette publication.
Relaciones con otras normas IEC
373
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