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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60147-2L:1979

IEC 60147-2L:1979

Supplement L - Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods - Part 2: General principles of measuring methods - Chapter 6: Digital integrated circuits

Complément L - Valeurs limites et caractéristiques essentielles des dispositifs à semiconducteurs et principes généraux des méthodes de mesure - Partie 2: Principes généraux des méthodes de mesure - Chapitre 6: Circuits intégrés digitaux

Fecha:
1979-01-01 /Anulada
Resumen (inglés):
Resumen (francés):
190,29
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