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Normas IEC internacionales electrotécnicas - AENOR
IEC 60147-2E:1973

IEC 60147-2E:1973

Supplement E - Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods - Part 2: General principles of measuring methods

Complément E - Valeurs limites et caractéristiques essentielles des dispositifs à semiconducteurs et principes généraux des méthodes de mesure - Partie 2: Principes généraux des méthodes de mesure

Fecha:
1973-01-01 /Anulada
Resumen (inglés):
Resumen (francés):
190,2
Idioma Formato

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