IEC 60147-2B:1970
Supplement B - Essential ratings and characteristics of
semiconductor devices and general principles of measuring methods -
Part 2: General principles of measuring methods
Complément B - Valeurs limites et caractéristiques essentielles des
dispositifs à semiconducteurs et principes généraux des méthodes de
mesure - Partie 2: Principes généraux des méthodes de mesure
