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Normas DIN – AENOR
DIN 50439:1982-10

DIN 50439:1982-10

Testing of materials for semiconductor technology; determination of the dopant concentration profile of single crystalline semiconductor material by means of the capacitancevoltage method and mercury contact

Essai des matériaux pour la technologie semi-conducteurs; détermination du profil de concentration du dopant dans les matériaux semi-conducteurs monocrystallines à l'aide de la méthode utilisant un contact au mercure et l'analyse des courbes d'évolution de la capacité avec la tension

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung des Dotierungsprofiles von einkristallinem Halbleitermaterial mit der Kapazitäts-Spannungs-Methode und Quecksilberkontakt

Fecha Anulación:
2018-02 /Withdrawn
Keywords:
Definitions, Mercury switches, Profile, Semiconductor technology, Semiconductors, Silicon, Testing
35,61
Idioma Formato

Formato digital

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