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Normas DIN – AENOR
DIN ISO 7503-3:2007-04

DIN ISO 7503-3:2007-04

Evaluation of surface contamination - Part 3: Isomeric transition and electron capture emitters, low energy beta-emitters (E<(Index)max> < 0,15 MeV) (ISO 7503-3:1996)

Évaluation de la contamination de surface - Partie 3: Émetteurs à transition isomérique et capture électronique, émetteurs bêta basse énergie (E<Index beta><(Index)max> < 0,15 MeV) (ISO 7503-3:1996)

Bestimmung der Oberflächenkontamination - Teil 3: Isomerische Übergangs- und Elektroneneinfangsstrahler und Niedrigenergie-Betastrahler (E<Index beta><(Index)max> < 0,15 MeV) (ISO 7503-3:1996)

Fecha Anulación:
2013-05 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

ISO 7503-3 (1996-11)

This part of DIN IS0 7503 series applies to the evaluation of contamination on surfaces of facilities and equipment, containers of radioactive materials and sealed sources in terms of activity per unit area. It does not apply to the evaluation of contamination of skin or clothing. It is restricted to the direct measurement by portable probes and to the indirect measurement of the radionuclides listed in Annex A.
Dieser Teil der Normenreihe DIN ISO 7503 gilt für die Bestimmung der Oberflächenkontamination von Anlagen und Einrichtungen, Behältern für radioaktives Material und umschlossene radioaktive Quellen in Einheiten der Aktivität je Flächeneinheit. Er gilt nicht für die Bestimmung der Kontamation von Haut oder Kleidung. Er beschränkt sich auf die direkte Messung mittels tragbarer Sonden und die indirekte Messung der in Anhang A aufgeführten Radionuklide.
Beta radiation, Calibration, Contamination, Definitions, Determination, Electrical engineering, Electronic engineering, Emitters, Gamma-radiation, Isomer, Measurement, Measuring instruments, Measuring techniques, Nuclear energy, Nuclear power, Nuclear radiation, Nuclear technology, Radiation, Radiation measurement, Radiation protection, Radioactive contaminated surfaces, Radioactive isotopes, Radioactive materials, Radioactivity, Radiology, Radionuclides, Surfaces, Testing
Idioma Formato

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