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Normas DIN – AENOR
DIN EN 61280-2-2:2006-02

DIN EN 61280-2-2:2006-02

Fibre optic communication subsystem test procedures - Part 2-2: Digital systems - Optical eye pattern, waveform and extinction ration measurement (IEC 61280-2-2:2005); German version EN 61280-2-2:2005 / Note: DIN EN 61280-2-2 (1999-10) remains valid alongside this standard until 2008-04-01.*A transition period, as set out in DIN EN 61280-2-2 (2009-02), exists until 2011-06-01.

Procédures d'essai des sous-systèmes de télécommunications à fibres optiques - Partie 2-2: Systèmes numériques - Mesure du diagramme de l'oeil optique, de la forme d'onde et du taux d'extinction (CEI 61280-2-2:2005); Version allemande EN 61280-2-2:2005 / Attention: DIN EN 61280-2-2 (1999-10) reste valable avec la présente norme jusqu'à 2008-04-01.*Il existe un délai de transition comme fixé en DIN EN 61280-2-2 (2009-02) jusqu'à 2011-06-01.

Prüfverfahren für Lichtwellenleiter-Kommunikationsuntersysteme - Teil 2-2: Digitale Systeme - Messung des optischen Augendiagramms, der Wellenform und des Extinktionsverhältnisses (IEC 61280-2-2:2005); Deutsche Fassung EN 61280-2-2:2005 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 61280-2-2 (1999-10) noch bis 2008-04-01.*Übergangsfrist, festgelegt durch DIN EN 61280-2-2 (2009-02), bis 2011-06-01 beachten.

Fecha Anulación:
2019-02 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

EN 61280-2-2 (2005-07)

IEC 61280-2-2 (2005-04)

Relación con otras normas DIN:
Resumen:
This part of IEC 61280 describes a test procedure to measure eye pattern and waveform parameters, such as rise time, fall time, overshoot, and extinction ratio. Alternatively, the waveform may be tested for compliance with a predetermined waveform mask.
Dieser Teil von IEC 61280 beschreibt ein Prüfverfahren zur Messung des Augendiagramms und von Parametern der Wellenform wie Anstiegszeit, Abfallzeit, Überschwingen und des Extinktionsverhältnisses. Alternativ dazu kann die Wellenform auf Übereinstimmung mit einer vorher festgelegten Maske für die Wellenform geprüft werden.
Keywords:
Communication systems, Diagrams, Digital signals, Drop-out time, Electrical engineering, Extinction, Fibre optics, Measurement, Measuring techniques, Optical eye pattern, Optical measurement, Optical tests, Optical waveguides, Optics, Optoelectronics, Overshooting, Parameters, Ratings, Rise time, Subsystems, Telecommunications, Testing, Transmission, Waveforms
90,09
Idioma Formato

Formato digital

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