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Normas DIN – AENOR
DIN EN 60749-30:2005-06

DIN EN 60749-30:2005-06

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2005); German version EN 60749-30:2005 / Note: A transition period, as set out in DIN EN 60749-30 (2011-12), exists until 2014-06-29.

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 30: Préconditionnement des composants pour montage en surface non hermétiques avant les essais de fiabilité (CEI 60749-30:2005); Version allemande EN 60749-30:2005 / Attention: Il existe un délai de transition comme fixé en DIN EN 60749-30 (2011-12) jusqu'à 2014-06-29.

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: Behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen (IEC 60749-30:2005); Deutsche Fassung EN 60749-30:2005 / Achtung: Übergangsfrist, festgelegt durch DIN EN 60749-30 (2011-12), bis 2014-06-29 beachten.

Fecha Anulación:
2011-12 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

EN 60749-30 (2005-03)

IEC 60749-30 (2005-01)

TS EN 60749-30 (2010-01-19)

Relación con otras normas DIN:

Reemplaza a: DIN IEC 60749-30:2003-06

Reemplazada por: DIN EN 60749-30:2011-12

Resumen:
This part of DIN EN 60749 establishes a standard procedure for determining the preconditioning of non-hermetic surface mount-devices (SMDs) prior to reliability testing.
In diesem Teil der DIN EN 60749 ist ein Standardverfahren festgelegt, mit welchem die Vorbehandlung (Preconditioning) vor Zuverlässigkeitsprüfungen von nicht hermetisch verkappten oberflächenmontierbaren Bauelementen (SMD) bestimmt wird.
Keywords:
Atmospheric pressure, Changes of temperature, Climate, Climatic, Climatic tests, Components, Definitions, Dimensions, Electrical engineering, Electrical measurement, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Environment, Environmental testing, Environmental tests, Flammability, Heat, Integrated circuits, Mechanical testing, Moisture, Preconditioning, Reliability, Reliability testing, Resistance, Semiconductor devices, Semiconductors, SMD, Surface mounting, Temperature, Testing, Tightness, Visual inspection (testing)
65,98
Idioma Formato

Formato digital

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