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Normas DIN – AENOR
DIN EN 60749-27:2005-05

DIN EN 60749-27:2005-05

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM) (IEC 47/1804/CDV:2005); German version prEN 60749-27:2005

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 27: Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de machine (MM) (CEI 47/1804/CDV:2005); Version allemande prEN 60749-27:2005

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine-Model (MM) (IEC 47/1804/CDV:2005); Deutsche Fassung prEN 60749-27:2005

Fecha Anulación:
2017-01 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

IEC 47/1804/CDV (2005-01)

prEN 60749-27 (2005-01)

Relación con otras normas DIN:

Reemplazada por: DIN EN 60749-27:2007-01

Reemplaza a: DIN EN 60749-27:2002-09

Resumen:
This part of DIN EN 60749 establishes a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined machine model (MM) electrostatic discharge (ESD). It may be used as an alternative test method to the human body model ESD test method. The objective is to provide reliable, repeatable ESD test results so that accurate classifications can be performed.
In diesem Teil der DIN EN 60749 ist ein Standardverfahren festgelegt zum Prüfen und Klassifizieren von Halbleiterbauelementen hinsichtlich deren Empfindlichkeit auf Beschädigungen oder Degradationen (Leistungsminderungen), wenn sie mit einer elektrostatischen Entladung (ESD) nach dem festgelegten Maschinen-Modell (MM) beansprucht werden. Das Verfahren darf alternativ zum ESD-Prüfverfahren nach dem Human-Body-Modell verwendet werden. Der Zweck des Verfahrens besteht in der Bereitstellung von zuverlässigen wiederholbaren ESD-Prüfergebnissen, um eine korrekte Klassifikation durchführen zu können.
Keywords:
Atmospheric pressure, Changes of temperature, Classification, Classification systems, Climate, Climatic tests, Components, Definitions, Dimensions, Discharge, Electrical components, Electrical engineering, Electrical measurement, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Electrostatic, Electrostatic discharges, Electrostatics, Environment, Environmental testing, Environmental tests, Flammability, Heat, Impulse loadability, Integrated circuits, Machines, Measuring equipment, Mechanical testing, Models, Moisture, Resistance, Semiconductor devices, Semiconductors, Sensitivity, Simulation, Temperature, Testing, Testing devices, Visual inspection (testing)
65,98
Idioma Formato

Formato digital

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