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Normas DIN – AENOR
DIN IEC 60749-38:2005-04

DIN IEC 60749-38:2005-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error rate testing of electronic components (IEC 47/1796/CD:2004)

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 38: Soft-Error-Rate bei elektronischen Bauelementen (IEC 47/1796/CD:2004)

Fecha Anulación:
2018-10 /Withdrawn
Equivalencias internacionales:

IEC 47/1796/CD (2004)

Relación con otras normas DIN:

Reemplazada por: DIN EN 60749-38:2008-10

Resumen:
This part of IEC 60749 establishes a procedure for measuring the data retention capability of large scale integrated circuit (LSI) memory devices when subjected to energetic particles such as alpha radiation. Two test are described an accelerated test using an alpha radiation source and a system test where any errors are generated under conditions of naturally occurring radiation which may be alpha or other radiation such as neutron.
Dieser Teil von IEC 60749 beschreibt ein Verfahren zur Messung des Datenbeharrungs-Vermögens von komplexen integrierten Schaltungen (LSI) als Memory-Bauteile, die energiegeladenen Teilchen wie Alpha-Strahlungen ausgesetzt werden. Es werden zwei Prüfungen beschrieben, ein beschleunigendes Verfahren mittels einer Alpha-Strahlungsquelle und eine Systemprüfung, bei der alle Fehler unter natürlich auftretenden Strahlungen, also Alpha- oder andere Strahlungen wie etwa Neutronen, erzeugt werden.
Keywords:
Accelerated, Alpha radiation, Climatic tests, Components, Damage, Defects, Definitions, Electrical engineering, Electrical measurement, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Integrated circuits, Interferences, Measurement, Mechanical testing, Power electronics, Semiconductor devices, Semiconductors, Testing, Testing conditions
53,93
Idioma Formato

Formato digital

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