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Normas DIN – AENOR
DIN EN 60749-24:2004-09

DIN EN 60749-24:2004-09

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST (IEC 60749-24:2004); German version EN 60749-24:2004

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 24: Résistance à l'humidité accélérée - HAST sans polarisation (CEI 60749-24:2004); Version allemande EN 60749-24:2004

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 24: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Hochbeschleunigte Wirkung (HAST) ohne elektrische Beanspruchung (IEC 60749-24:2004); Deutsche Fassung EN 60749-24:2004

Fecha:
2014-09 /Active
Equivalencias internacionales:

EN 60749-24 (2004-04)

IEC 60749-24 (2004-03)

IEC 60749-24 (2005-11)

Relación con otras normas DIN:
Resumen:
The unbiased highly accelerated stress testing (HAST) specified in this part of DIN EN 60749 is performed for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetically packaged solid-state devices in humid environments.
Das in diesem Teil von DIN EN 60749 beschriebene hochbeschleunigende Prüfverfahren ohne elektrische Beanspruchung wird verwendet, um die Zuverlässigkeit von nicht hermetisch verkappten (kunststoffverkappten) Halbleiterbauelementen unter feuchten Umgebungsbedingungen zu beurteilen.
Keywords:
Bond strength, Climatic tests, Components, Destructive testing, Electrical engineering, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Environmental testing, Environmental tests, Failure analysis, Failure frequency, Failure rates, Integrated circuits, Mechanical testing, Moisture resistance, Semiconductor devices, Statistics of failure, Testing
53,93
Idioma Formato

Formato digital

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